Dados
Nome
Laboratório de Caracterização e Microscopia de Materiais
Laboratório de Caracterização e Microscopia de Materiais
Sigla
LCMMat
LCMMat
Unidade Acadêmica
INSTITUTO DE FISICA (IF)
INSTITUTO DE FISICA (IF)
Sobre
O Laboratório de Caracterização e Microscopia de Materiais (LCMMat) é composto por um conjunto de laboratórios multiusuário que fazem parte da infraestrutura do GON - Grupo de Óptica e Nanoscopia (https://if.ufal.br/grupopesquisa/gon/index.html) e conta com uma equipe técnico-científica especializada e equipamentos modernos procurando atender a demanda qualificada da comunidade científica interna e externa a UFAL, de forma a contribuir em estudos de análise química, estrutural e morfológica dos mais diferentes tipos de materiais. Este laboratório é composto pelos seguintes equipamentos: • Difratômetro de Raios-X Shimadzu, modelo XRD-6000 • Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV), Shimadzu SUPERSCAN SSX-550 com EDX integrado. • Espectrometro no Ultravioleta/Visível-Infravermelho-Próximo (UV-VIS-NIR).UV-VIS-IR (UV-3600, Shimadzu) • Espectrometro Infravermelho por Transformada de Fourier (FTIR IR-Prestige-21, Shimadzu) • Espectrometro por energia dispersiva de raios-X (EDX 800HS, Shimadzu) • Espectrofluorímetro (Fluorolog 3, Horiba-Jobin Yvon) • Microscópio de Força Atomica (AFM); • Microscópio de Força Atômica condutora (c-AFM); • Microscópio de Campo Próximo (SNOM); • Microscópio de Força Eletrostática (EFM); • Microscópio de Força Magnética (MFM).
O Laboratório de Caracterização e Microscopia de Materiais (LCMMat) é composto por um conjunto de laboratórios multiusuário que fazem parte da infraestrutura do GON - Grupo de Óptica e Nanoscopia (https://if.ufal.br/grupopesquisa/gon/index.html) e conta com uma equipe técnico-científica especializada e equipamentos modernos procurando atender a demanda qualificada da comunidade científica interna e externa a UFAL, de forma a contribuir em estudos de análise química, estrutural e morfológica dos mais diferentes tipos de materiais. Este laboratório é composto pelos seguintes equipamentos: • Difratômetro de Raios-X Shimadzu, modelo XRD-6000 • Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV), Shimadzu SUPERSCAN SSX-550 com EDX integrado. • Espectrometro no Ultravioleta/Visível-Infravermelho-Próximo (UV-VIS-NIR).UV-VIS-IR (UV-3600, Shimadzu) • Espectrometro Infravermelho por Transformada de Fourier (FTIR IR-Prestige-21, Shimadzu) • Espectrometro por energia dispersiva de raios-X (EDX 800HS, Shimadzu) • Espectrofluorímetro (Fluorolog 3, Horiba-Jobin Yvon) • Microscópio de Força Atomica (AFM); • Microscópio de Força Atômica condutora (c-AFM); • Microscópio de Campo Próximo (SNOM); • Microscópio de Força Eletrostática (EFM); • Microscópio de Força Magnética (MFM).
Endereço
Avenida Lourival Melo Mota, 00
Tabuleiro dos Martins
Maceió - Alagoas
CEP 57072-900
Instituto de Física - Campus A.C. Simões
Tabuleiro dos Martins
Maceió - Alagoas
CEP 57072-900
Instituto de Física - Campus A.C. Simões
Responsável
Nome
E-mail
eduardo@fis.ufal.br
eduardo@fis.ufal.br
Telefone
82981455975
82981455975
Lattes
http://lattes.cnpq.br/8913394140432984
http://lattes.cnpq.br/8913394140432984